电容式传感器的位移实验

一、电容式传感器的位移实验目的：

了解电容式传感器结构及其特点。

二、基本原理：

1、原理简述：电容传感器是以各种类型的电容器为传感元件，将被测物理量转换成电容量的变化来实现测量的。电容传感器的输出是电容的变化量。利用电容C＝εA／d关系式通过相应的结构和测量电路可以选择ε、A、d中三个参数中，保持二个参数不变，而只改变其中一个参数，则可以有测干燥度（ε变）、测位移（d变）和测液位（A变）等多种电容传感器。电容传感器极板形状分成平板、圆板形和圆柱(圆筒)形，虽还有球面形和锯齿形等其它的形状，但一般很少用。本实验采用的传感器为圆筒式变面积差动结构的电容式位移传感器，差动式一般优于单组(单边)式的传感器。它灵敏度高、线性范围宽、稳定性高。如图11—1所示：它是有二个圆筒和一个圆柱组成的。设圆筒的半径为R；圆柱的半径为r；圆柱的长为x，则电容量为C=ε2pｘ／ln(R／r)。图中C1、C2是差动连接，当图中的圆柱产生∆X位移时，电容量的变化量为∆C =C1－C2=ε2p2∆X／ln(R／r)，式中ε2p、ln(R／r)为常数，说明∆C与∆X位移成正比，配上配套测量电路能测量位移。

图11—1  实验电容传感器结构

1、 测量电路(电容变换器)：如图11—2所示，测量电路的核心部分是图11—3的电路。

图11—2 电容测量电路

图11—3 二极管环形充放电电路

在图11—3中，环形充放电电路由D3、D4、D5、D6二极管、C5电容、L1电感和CX1、CX2实验差动电容位移传感器组成。

当高频激励电压(ｆ>100kHz)输入到ａ点，由低电平E1跃到高电平E2时，电容CX1和

CX2两端电压均由E1充到E2。充电电荷一路由ａ点经D3到b点，再对CX1充电到O点(地)；另一路由由ａ点经C5到c点，再经D5到d点对CX2充电到O点。此时，D4和D6由于反偏置而截止。在t1充电时间内，由ａ到c点的电荷量为：

Q1＝CX2(E2-E1)       （11—1）

    当高频激励电压由高电平E2返回到低电平E1时，电容CX1和CX2均放电。CX1经b点、D4、c点、C5、ａ点、L1放电到O点；CX2经d点、D6、L1放电到O点。在t2放电时间内由c点到ａ点的电荷量为：

Q2＝CX1(E2-E1)       （11—2）

当然，（11—1）式和（11—2）式是在C5电容值远远大于传感器的CX1和CX2电容值的前提下得到的结果。电容C5的充放电回路由图11—3中实线、虚线箭头所示。

在一个充放电周期内（Ｔ＝t1＋t2），由c点到ａQ2＝CX1(E2-E1)点的电荷量为：

Ｑ＝Q2-Q1＝(CX1-CX2)(E2-E1)＝△CX △E       （11—3）

式中：CX1与CX2的变化趋势是相反的（传感器的结构决定的，是差动式）。

设激励电压频率f＝1/T，则流过ac支路输出的平均电流i为：

i＝fＱ＝f△CX △E           （11—4）

式中：△E—激励电压幅值；△CX—传感器的电容变化量。

由（11—4）式可看出：f、△E一定时，输出平均电流i与△CX成正比，此输出平均电流i经电路中的电感L2、电容C6滤波变为直流I输出，再经Rw转换成电压输出Vo1＝I Rw。由传感器原理已知∆C与∆X位移成正比，所以通过测量电路的输出电压Vo1可知∆X位移。

2、 电容式位移传感器实验原理方块图如图11—4

图11—4电容式位移传感器实验方块图

三、需用器件与单元：

机头静态位移安装架、传感器输入插座、电容传感器、测微头、主板F／V表、电容输出口、电容变换器、差动放大器。

四、实验步骤：

附：测微头的组成与使用

测微头组成和读数如图11—5所示。

图11—5测位头组成与读数

测微头组成： 测微头由不可动部分中的安装套、轴套和可动部分中的测杆、微分筒、微调钮组成。

测微头读数与使用：测微头的安装套便于在支架座上固定安装，轴套上的主尺有两排刻度线，标有数字的是整毫米刻线(1ｍｍ／格)，另一排是半毫米刻线(0.5ｍｍ／格)；微分筒前部圆周表面上刻有50等分的刻线(0.01ｍｍ／格)。

用手旋转微分筒或微调钮时，测杆沿轴线方向进退。微分筒每转过1格，测杆沿轴方向移动微小位移0.01毫米，这也叫测微头的分度值。

测微头的读数方法是先读轴套主尺上露出的刻度数值，注意半毫米刻线；再读与主尺横线对准微分筒上的数值、可以估读1／10分度，如图11—5甲读数为3.678ｍｍ，不是3.178ｍｍ；遇到微分筒边缘前端与主尺上某条刻线重合时，应看微分筒的示值是否过零，如图11—5乙已过零则读2.514ｍｍ；如图11—5丙未过零，则不应读为２ｍｍ，读数应为1.980ｍｍ。

测微头使用：测微头在实验中是用来产生位移并指示出位移量的工具。一般测微头在使用前，首先转动微分筒到10ｍｍ处(为了保留测杆轴向前、后位移的余量)，再将测微头轴套上的主尺横线面向自己安装到专用支架座上，移动测微头的安装套(测微头整体移动)使测杆与被测体连接并使被测体处于合适位置(视具体实验而定)时再拧紧支架座上的紧固螺钉。当转动测微头的微分筒时，被测体会随测杆而位移。

1、差动放大器调零：按图11—6所示接线。将F／V表的量程切换开关切换到2V档，

合上实验箱主电源开关，将差动放大器的拨动开关拨到“开”位置，将差动放大器的增益电位器按顺时针方向轻轻转到底后再逆向回转半圈，调节调零电位器，使电压表显示电压为零。再关闭主电源。

图11—6 差动放大器调零接线图

1、 电容传感器的位移测量系统电路调整：

将电容传感器安装在机头的静态位移安装架上(传感器动极片连接杆的标记刻线朝上

方)并将引线插头插入传感器输入插座内，如图11—7的机头部分所示。再按图11—7主板部分的接线示意图接线，将F／V表的量程切换开关切换到20V档，检查接线无误后合上主电源开关，将电容变换器的拨动开关拨到“开”位置并将电容变换器的增益顺针方向慢慢转到底再反方向回转半圈。

拉出(向右慢慢拉)传感器动极片连接杆，使连接杆上的第二根标记刻线与夹紧螺母处的端口并齐，调节差动放大器的增益旋钮使电压表显示值为1V左右；推进(向左慢慢推) 传感器动极片连接杆，使连接杆上的一根标记刻线与夹紧螺母处的端口并齐，调节差动放大器的调零旋钮(0电平迁移)使电压表反方向显示值为1V左右。重复这一过程，使传感器的二条标记刻线(传感器的位移行程范围)对应于差动放大器的输出为±1V左右。

图11—7电容传感器位移测量系统电路调整安装、接线图

3、安装测微头：

首先调节测微头的微分筒，使微分筒的0刻度线对准轴套的20mm处，再将测微头的安

装套插入静态位移安装架的测微头安装孔内并使测微头测杆与传感器的动极片连接杆吸合；然后移动测微头的安装套使传感器连杆上的第二根标记刻线与传感器夹紧螺母端口并齐后拧紧测微头安装孔上的紧固螺钉，如图11—8机头部分所示。

4、传感器位移特性实验：

安装好测微头后(测微头的微分筒0刻度线对准轴套的20mm处)，读取电压表显示的电

压值为起始点，再仔细慢慢顺时针转动测微头的微分筒一圈△X=0.5mm(不能转动过量，否则回转会引起机械回程差)从F／V表上读出输出电压值，填入下表11，直到传感器连杆上的一根标记刻线与传感器夹紧螺母端口并齐为止。

表11电容传感器测位移实验数据

图11—8  测微头的安装图(机头部分所示)

5、根据表11数据作出△X—V实验曲线，在实验曲线上截取线性比较好的线段作为测量范围并计算灵敏度S=△V／△X与线性度。实验完毕，关闭所有电源开关。